Beni Culturali

FE-SEM con EDS per la microanalisi

Il microscopio elettronico FE-SEM è dotato di una sorgente ad emissione di campo, di quattro diversi rivelatori (BSE, SE2, InLens, STEM) e del sensore per la detezione di emissione di raggi X (EDS) per condurre analisi composizionali localizzate.

Le eccellenti proprietà di imaging, unite alle capacità analitiche, rendono questo strumento versatile e adatto a un’ampia gamma di applicazioni, come lo sviluppo di materiali, l’analisi dei difetti, il controllo di processo, la nanotecnologia e le applicazioni analitiche.

La strumentazione è particolarmente indicata per:

• Studio e caratterizzazione di materiali ceramici e vetrosi, metallici, compositi.
• Studio dei difetti
• Studio morfologico ed analitico dei particolati e dei materiali micro e nano dispersi.
• Determinazione qualitativa dell’amianto in massa e della concentrazione di fibre aerodisperse

MICROSCOPIA OTTICA

Strumentazione indicata per:

Beni culturali: studio di campioni per identificare strati pittorici, pigmenti e altri dettagli legati a opere d’arte e manufatti storici.

Analisi dei materiali: studio delle microstrutture, inclusa la valutazione della dimensione dei grani, delle inclusioni e dei difetti in metalli, ceramica, vetro e altri materiali.

Valutazione di depositi: analisi dello spessore e della morfologia dei depositi su una superficie.

Identificazione di difetti e corrosione: individuazione di attacchi corrosivi e altri difetti su un materiale. 

Spettrofotometro UV-Vis

ecnica basata sulla misura dell’assorbimento della radiazione ultravioletta e visibile da parte di un campione, utile per analisi qualitative e quantitative di specie chimiche in soluzione o in dispersione.

• Applicazioni:

• Determinazione quantitativa di specie chimiche in soluzione
• Studio delle proprietà ottiche di nanoparticelle e materiali dispersi
• Monitoraggio di reazioni chimiche e processi di degradazione

XRF

La spettroscopia di fluorescenza a raggi X (XRF) è una tecnica utilizzata per l’analisi elementare di solidi o liquidi con un minimo trattamento del campione. Il campione viene irradiato con un fascio di raggi X, gli atomi del campione vengono eccitati ed emettono raggi X in fase di rilassamento. Le lunghezze d’onda dei raggi X emessi sono caratteristiche della specie atomica.

Le sue applicazioni sono ampie ed includono l’analisi di materiali da costruzione, la conservazione di beni culturali (per identificare pigmenti e leghe), la geologia (per studiare rocce e minerali), il settore ambientale e il controllo qualità in vari ambiti industriali (es. ceramica, vetro, metalli, petrolio).

Strumentazione indicata per:

• Identificazione Qualitativa degli elementi chimici (da F a U) presenti nel campione in frazione percentuale fino al 100%.
• Determinazione Quantitativa degli elementi chimici (da F a U) presenti nel campione.

XRD, HT-XRD e analisi a basso angolo

La diffrazione a raggi X (XRD) è una tecnica non distruttiva di analisi qualitativa e quantitativa dei materiali cristallini, usata per identificare la struttura cristallina dei materiali, identificare e quantificare le fasi cristalline presenti, analizzare difetti e dimensioni dei cristalliti.

E’ una tecnica ampiamente impiegata nel settore industriale, geologico e mineralogico, e nello studio dei materiali avanzati, dei rivestimenti, dei farmaci e dei prodotti per il restauro.

Strumentazione indicata per:

• determinare quali composti cristallini sono presenti in un campione in polvere o solido e in quale percentuale.
• con accessorio a “basso angolo incidente”: è possibile caratterizzare film sottili e coating con spessori dell’ordine dei nanometri.
• con accessorio “camera calda” (HT-XRD): si possono studiare la stabilità termica e le trasformazioni di fase dei materiali (es. ceramica, metalli, catalizzatori) durante l’operatività a temperature elevate, per ottimizzarne l’efficienza e la durata.