Analisi Ceramica

FE-SEM con EDS per la microanalisi

Il microscopio elettronico FE-SEM è dotato di una sorgente ad emissione di campo, di quattro diversi rivelatori (BSE, SE2, InLens, STEM) e del sensore per la detezione di emissione di raggi X (EDS) per condurre analisi composizionali localizzate.

Le eccellenti proprietà di imaging, unite alle capacità analitiche, rendono questo strumento versatile e adatto a un’ampia gamma di applicazioni, come lo sviluppo di materiali, l’analisi dei difetti, il controllo di processo, la nanotecnologia e le applicazioni analitiche.

La strumentazione è particolarmente indicata per:

• Studio e caratterizzazione di materiali ceramici e vetrosi, metallici, compositi.
• Studio dei difetti
• Studio morfologico ed analitico dei particolati e dei materiali micro e nano dispersi.
• Determinazione qualitativa dell’amianto in massa e della concentrazione di fibre aerodisperse

MICROSCOPIA OTTICA

Strumentazione indicata per:

• Beni culturali: studio di campioni per identificare strati pittorici, pigmenti e altri dettagli legati a opere d’arte e manufatti storici.
• Analisi dei materiali: studio delle microstrutture, inclusa la valutazione della dimensione dei grani, delle inclusioni e dei difetti in metalli, ceramica, vetro e altri materiali.
• Valutazione di depositi: analisi dello spessore e della morfologia dei depositi su una superficie.
• Identificazione di difetti e corrosione: individuazione di attacchi corrosivi e altri difetti su un materiale. 

XRD, HT-XRD e analisi a basso angolo

La diffrazione a raggi X (XRD) è una tecnica non distruttiva di analisi qualitativa e quantitativa dei materiali cristallini, usata per identificare la struttura cristallina dei materiali, identificare e quantificare le fasi cristalline presenti, analizzare difetti e dimensioni dei cristalliti.

E’ una tecnica ampiamente impiegata nel settore industriale, geologico e mineralogico, e nello studio dei materiali avanzati, dei rivestimenti, dei farmaci e dei prodotti per il restauro.

Strumentazione indicata per:

• determinare quali composti cristallini sono presenti in un campione in polvere o solido e in quale percentuale.
• con accessorio a “basso angolo incidente”: è possibile caratterizzare film sottili e coating con spessori dell’ordine dei nanometri.
• con accessorio “camera calda” (HT-XRD): si possono studiare la stabilità termica e le trasformazioni di fase dei materiali (es. ceramica, metalli, catalizzatori) durante l’operatività a temperature elevate, per ottimizzarne l’efficienza e la durata.

XRF

La spettroscopia di fluorescenza a raggi X (XRF) è una tecnica utilizzata per l’analisi elementare di solidi o liquidi con un minimo trattamento del campione. Il campione viene irradiato con un fascio di raggi X, gli atomi del campione vengono eccitati ed emettono raggi X in fase di rilassamento. Le lunghezze d’onda dei raggi X emessi sono caratteristiche della specie atomica.

Le sue applicazioni sono ampie ed includono l’analisi di materiali da costruzione, la conservazione di beni culturali (per identificare pigmenti e leghe), la geologia (per studiare rocce e minerali), il settore ambientale e il controllo qualità in vari ambiti industriali (es. ceramica, vetro, metalli, petrolio).

Strumentazione indicata per:

• Identificazione Qualitativa degli elementi chimici (da F a U) presenti nel campione in frazione percentuale fino al 100%.
• Determinazione Quantitativa degli elementi chimici (da F a U) presenti nel campione.

Microscopio riscaldante

Il microscopio riscaldante permette di seguire “visivamente” cosa succede ai campioni sottoposti a trattamenti termici consentendo di ottenere informazioni sulla fusibilità del materiale (punto di rammollimento, punto di mezza sfera e punto di sfera)

Strumentazione indicata per:

• caratterizzazione diretta di smalti, vetri, fritte, ceneri, polveri per colata continua, carbone, scorie, vernici, ecc. sottoposti a trattamenti termici.
• studio della fusibilità di un materiale.
• studio del ciclo di cottura del materiale di interesse.
• studio della bagnabilità del supporto in esame da parte del materiale di rivestimento

Dilatometro

Settori di applicazione “Ceramica e vetro”.

Strumentazione indicata per:

• Analisi del processo di cottura di pezzi “verdi” (crudi).
• Studio del legame tra smalto e corpo ceramico.
• Ottimizzazione dei cicli di sinterizzazione.
• Misurazione del coefficiente di dilatazione termica di vetri, smalti e materiali refrattari.

Granulometria Laser (secco umido)

Tecnica basata sulla diffrazione della luce per determinare la distribuzione dimensionale di particelle nel range micrometrico e submicrometrico.

Applicazioni:

• Analisi polveri ceramiche
• Sospensioni colloidali
• Controllo qualità materie prime e prodotti finiti

TG-DSC/DTA

Tecnica utilizzata per studiare simultaneamente la variazione di massa e gli eventi termici di un campione al variare della temperatura. Trova applicazioni in diversi settori come la scienza dei materiali (polimeri, ceramiche), il farmaceutico, l’alimentare e il petrolchimico.

Strumentazione indicata per:

• Studiare la decomposizione, la pirolisi, l’ossidazione
• Caratterizzare le transizioni di fase (fusione, cristallizzazione).
• Determinare la temperatura di transizione vetrosa.